Tokyo Üniversitesi Mühendislik Enstitüsü'nden Naoya Shibata ve ekibi, komşu atomların titreşimlerini doğrudan gözlemleyebilen bir atomik ölçekli çift yarık deneyi gerçekleştirdi. Çalışma, 2026 yılında prestijli bir bilim dergisinde yayımlandı.

Araştırmacılar, taramalı iletim elektron mikroskobu (STEM) ile 136 pm aralıkta bulunan iki silikon atom sütununa odaklanan bir elektron demeti kullandı; bu, Young'un klasik deneyini yaklaşık yedi mertebe küçülttü. Elde edilen girişim desenleri, atom çiftlerinin aynı yönde titreşme derecesini ortaya koyarak bağ kuvveti ve ısı iletimine dair yeni bilgiler sağladı.

Yöntem hâlen yalnızca belirli kristal yapı ve koşullarda uygulanabiliyor, bu da geniş malzeme yelpazesine genelleme gerektirdiğini gösteriyor. Gelecekte, bu teknik sayesinde yarı iletkenlerde ısı birikiminin yoğun olduğu bölgeler atomik seviyede incelenebilir, böylece ısı dağıtım tasarımlarına yön verebilir.