Maryland Üniversitesi (UMD) fizik profesörü Min Ouyang ekibi, atomik kuvvet mikroskopisi (AFM) ucuunu hızlıca geri‑ileri sallarak kızılötesi ışık pulseriyle birleştirerek yeni bir görüntüleme yöntemi geliştirdi. Bu yöntem, infrared torsional force microscopy (TFM‑IR) adıyla, materyal yüzeyinin dikey ve yatay titreşimlerini birbirinden ayırt edebilen yaklaşık bir nanometre hassasiyetinde ölçmeyi mümkün kılar. Geleneksel AFM sadece yüzeyin yüksekliğini algılarken, TFM‑IR ışık tarafından oluşturulan titreşimleri de yakalar.

Tekniğin önemi, mika ve iki katmanlı grafen (moiré) üzerinde yapılan deneylerde gösterildi; mica üzerinde dört farklı titreşim modu ayrıştırıldı ve grafen örneğinde tek bir hexagon içindeki bağların yanı sıra iki katman arasındaki bağların da kızılötesi ışığa yanıtları ayrı ayrı görselleştirildi. Bu sayede yatay ve dikey yanıtlar ayrı ayrı izlenebildi ve teorik titreşim simülasyonlarıyla deneysel sonuçlar uyumlu bulundu. Böylece önceki TFM tekniğinin sadece ağa şeklini gösteren sınırı aşılmış oldu.

Yöntem oda sıcaklığında çalıştığı için半导体公司们がチップ欠陥をナノスケールで見つけるのに有用だと umuluyor; ayrıca kuantum sensörleri ve fotonik kuantum bilgisayar gibi następ‑nesil nanoscale cihazların tasarımında rehberlik edebileceği belirtiliyor.