Columbia Üniversitesi'ndeki Michele Valsecchi liderliğinde bir ekip, polyethylene boru kaynaklarında moleküler dinamik simülasyonlarıyla yüzey yöneliminin kalıntı izinin kristal nucleation olarak hareket ettiğini gösterdi. Bu iz, iki katman ışındıktan sonra soğurken ekstra kristal büyümesinin tohumu olur ve kaynak bölgesini çevre borudan daha sert kılar.
Ekstra kristalliklik, kaynak hattını borunun geri kalanından daha sert yapar; bu sayesinde gerilim altında çatlak oluşumu engellenir ve bozulma daha yumuşak boru materyaline yönlendirilir. Dolayısıyla bir boru kaynağından ayrılma, zayıf bir bağlantı yerine iyi bir kaynak işaretidir.
Bu mekanizma yeni plastik eklemeyi gerektirmediği için geri dönüştürülmüş polietilen de aynı şekilde faydalanabilir; bu, geri dönüşüm malzemesinin kullanımında güvenlik kritik dayanım kaybı endişesini azaltabilir. Ancak sonuçlar hâlâ sadece bilgisayar simülasyonlarına dayanıyor ve laboratuvar deneyleriyle teyit edilmesi gerekir.