D-Wave、二重導波路量子ビットで混合状態をテスト

D-Waveは二重導波路量子ビットで混合状態の生成に成功した。この技術は、フォトン損失などの最も一般的なエラーを容易に検出できる特徴により際立っている。研究は、この利点が混合状態の生成過程で維持されていることを示した。

混合状態は、2つの量子ビットが相互に結びついて振る舞うことを可能にし、量子計算の基盤となる。D-Waveの二重導波路量子ビットは、フォトンが左または右の共振器に存在する確率に基づいている。この構造により、エラーの検出が容易になる。

研究は二重導波路量子ビットの可能性を示すが、まだ完全なエラー訂正コードを必要としていない。D-Waveはこの技術をさらに発展させるために作業を続けている。