En el Laboratorio Nacional de Brookhaven, dependiente del Departamento de Energía de EE.UU., se ha instalado un microscopio electrónico de barrido de transmisión especialmente diseñado para el Centro de Nanomateriales Funcionales (CFN). El nuevo dispositivo ofrece una sensibilidad aproximadamente 200 veces mayor que los microscopios actuales en términos de resolución de energía. Esta innovación tiene como objetivo proporcionar una nueva perspectiva en las investigaciones sobre baterías, semiconductores y materiales cuánticos.
El sistema de filtración de energía único del microscopio permite operar a bajas tensiones, como 20 keV, lo que facilita la visualización a nivel atómico sin dañar los materiales sensibles. Además, cuenta con dos detectores de electrones secundarios que pueden registrar simultáneamente las superficies superior e inferior de las muestras con detalle atómico. Su sistema óptico mejorado amplía cinco veces el rango de medición de la espectroscopia de pérdida de energía de electrones (EELS), permitiendo a los investigadores estudiar simultáneamente la estructura, la composición química y el comportamiento electrónico de los materiales.
El equipo llena el vacío entre los microscopios electrónicos tradicionales y las instalaciones de rayos X de sincrotrón, aunque aún requiere procesos complejos de preparación de muestras e interpretación de datos. El software de control basado en Python permite el trabajo remoto y con apoyo de aprendizaje automático; se planea instalar un segundo microscopio similar en un futuro cercano.
